倒置明暗場(chǎng)金相顯微鏡的構(gòu)造及使用

更新時(shí)間：2024-03-11 點(diǎn)擊次數(shù)：817

倒置明暗場(chǎng)金相顯微鏡是一種常用于材料分析和金相檢測(cè)的顯微鏡。它具有特殊的光學(xué)系統(tǒng)，可以讓觀察者從試樣的底部觀察，并通過透射和反射光同時(shí)獲得明場(chǎng)和暗場(chǎng)的圖像。以下是倒置明暗場(chǎng)金相顯微鏡的構(gòu)造及使用方法：

構(gòu)造：

光源：通常采用白熾燈或準(zhǔn)直光源作為光源，通過調(diào)節(jié)亮度來控制照明強(qiáng)度。

物鏡：倒置顯微鏡的物鏡通常具有低倍數(shù)（如5X、10X）和高倍數(shù)（如20X、50X）兩種選擇，以滿足不同放大倍率要求。

顯示器/眼視管：可以選擇將顯微圖像直接顯示在顯示器上或通過眼視管觀察。

暗場(chǎng)裝置：該裝置包括一個(gè)偏振片、一個(gè)暗盤以及相關(guān)控制機(jī)構(gòu)。它們可實(shí)現(xiàn)對(duì)透射光進(jìn)行抑制，使試樣表面缺陷更加突出。

使用方法：

照明調(diào)節(jié)：首先打開光源并調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度，確保試樣能夠清晰可見。

調(diào)整焦距：使用調(diào)焦手輪或調(diào)節(jié)桿，將試樣移動(dòng)到物鏡下方，并逐漸調(diào)整焦距，直到試樣圖像清晰可辨。

切換明場(chǎng)和暗場(chǎng)：通過轉(zhuǎn)動(dòng)暗場(chǎng)裝置上的控制機(jī)構(gòu)，可以切換觀察模式。在明場(chǎng)觀察時(shí)，關(guān)閉偏振片和暗盤；在暗場(chǎng)觀察時(shí)，打開偏振片并調(diào)整暗盤位置以獲得最佳效果。

觀察與分析：

調(diào)整放大倍率：根據(jù)需要選擇合適數(shù)量的物鏡，并通過旋轉(zhuǎn)目鏡或更換物鏡來實(shí)現(xiàn)不同放大倍率的觀察。

掃描試樣表面：使用顯微鏡的移動(dòng)平臺(tái)或簡(jiǎn)筆畫架等設(shè)備，對(duì)試樣進(jìn)行掃描以獲取所需區(qū)域的圖像。

分析缺陷和結(jié)構(gòu)：倒置明暗場(chǎng)金相顯微鏡能夠幫助觀察者發(fā)現(xiàn)樣品中的缺陷、晶粒結(jié)構(gòu)、顆粒分布等信息，并用于材料分析和金相檢測(cè)。

以上是倒置明暗場(chǎng)金相顯微鏡的基本構(gòu)造及使用方法。請(qǐng)注意，在操作過程中需要遵循顯微鏡的安全操作規(guī)程，并根據(jù)具體設(shè)備的說明書進(jìn)行操作。