簡要描述:微分干涉金相顯微鏡 DMM-1200CDMM-1200微分干涉金相顯微鏡(DIC)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器,可選用微分干涉(DIC)觀測、獲得高清晰的圖
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品牌 | CAIKON/蔡康光學(xué) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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配備圖像分析系統(tǒng) | 是 | 產(chǎn)品種類 | 正置 |
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,制藥 |
微分干涉金相顯微鏡 DMM-1200C
DMM-1200微分干涉金相顯微鏡(DIC)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器,可選用微分干涉(DIC)觀測、獲得高清晰的圖像,使圖像襯度更好,是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用;可進(jìn)行明場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
詳細(xì)介紹技術(shù)參數(shù)
一、 DMM-1200C型微分干涉金相顯微鏡的主要用途和特點(diǎn):
DMM-1200微分干涉金相顯微鏡(DIC)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器,可選用微分干涉(DIC)觀測、獲得高清晰的圖像,使圖像襯度更好,是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用;可進(jìn)行明場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
DMM-1200C電腦型微分干涉金相顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機(jī)成像技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機(jī)上很方便地適時觀察金相圖像,并可隨時拍攝記錄金相圖片,從而對金相圖譜進(jìn)行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。
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